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Practical Electron Microscopy of Lattice Defects 精裝版, World Scientific Publishing..., 英文
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商品特色
- 透過電子顯微鏡探索晶格缺陷，深入了解材料微觀結構，提升研究分析能力。
- 本書提供實用的電子顯微鏡技術，協助讀者精準分析材料缺陷，優化實驗流程。
- 精裝版設計，方便攜帶與長期保存，隨時查閱晶格缺陷相關知識，增進學術研究效率。
商品概述
《Practical Electron Microscopy of Lattice Defects》是一本精裝外文書籍，深入探討晶格缺陷的電子顯微鏡技術。本書由World Scientific Publishing出版，語言為英文，提供實用的方法和案例，幫助讀者理解和分析材料中的微觀缺陷。透過本書，讀者可以學習如何使用電子顯微鏡來研究晶格結構，並深入了解材料的性質和行為。這本書是科學和材料研究領域的寶貴資源，適合研究人員和學生使用。精裝設計使其更耐用，方便長期參考。
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