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Introduction to Quantum Metrology: The Revised Si System and Quantum Standards 精裝版, Springer, 英文
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商品特色
- 探索量子計量學的奧秘，深入了解修訂後的SI系統與量子標準，為您開啟科學研究的新視野。
- 本書以精裝形式呈現，提供舒適的閱讀體驗，讓您沉浸在量子世界的知識海洋中，享受學習的樂趣。
- Springer出版社的權威著作，內容涵蓋量子計量學的最新進展，助您掌握前沿科技，提升專業能力。
商品概述
《Introduction to Quantum Metrology》是一本深入探討量子計量學的書籍，詳細介紹了修訂後的SI系統和量子標準。本書由Springer出版社出版，以精裝形式呈現，內容豐富且易於理解，適合對量子計量學感興趣的讀者。無論您是學生、研究人員還是專業人士，本書都能為您提供寶貴的知識和見解，助您在量子領域取得更大的成就。透過本書，您將能夠掌握量子計量學的最新進展，並將其應用於實際研究和工作中。
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