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Aberration-Corrected Analytical Transmission Electron Microscopy 精裝版, Wiley
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商品特色
- 透過本書學習像差校正技術，提升您在分析電子顯微鏡領域的專業能力。
- 由Rik Brydson編輯，本書提供深入的分析透射電子顯微鏡知識。
- 深入了解電子顯微鏡技術，精裝版本提供更佳的閱讀體驗與保存價值。
商品概述
《像差校正分析透射電子顯微鏡》精裝版是由Rik Brydson編輯的權威著作，深入探討了像差校正技術在分析透射電子顯微鏡中的應用。本書詳細介紹了相關理論、方法與實例，適合研究人員、工程師與學生閱讀。精裝設計不僅提升了書籍的耐用性，也使其更具收藏價值。無論您是想深入了解電子顯微鏡技術，還是尋求解決實際問題的方案，本書都將是您的理想選擇。透過本書，讀者可以掌握最新的技術進展，並將其應用於實際研究中。
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