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Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope 精裝版, World Scientific Publishing..., 英文
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商品特色
- 深入了解掃描電子顯微鏡中的二次電子能量譜，掌握分析技術。
- 探索二次電子能量譜在材料科學研究中的應用，提升研究效率。
- 透過本書學習如何優化掃描電子顯微鏡設置，獲得更清晰的圖像。
商品概述
本書《掃描電子顯微鏡中的二次電子能量譜》深入探討了在掃描電子顯微鏡中應用二次電子能量譜的技術與原理。它詳細介紹了如何利用此技術進行材料分析，並提供了優化掃描電子顯微鏡設置的實用指南。無論您是材料科學研究人員還是電子顯微鏡操作者，本書都能幫助您更有效地利用掃描電子顯微鏡，提升研究水平。本書以英文撰寫，精裝設計，方便閱讀和收藏。ISBN為9789811227028。
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