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Advances in Optical Surface Texture Metrology 精裝版, IOP Publishing Ltd, 英語
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商品特色
- 本書深入探討光學表面紋理計量學的最新進展，提供清晰易懂的技術解析。
- 透過實例分析，讀者可以快速掌握光學表面檢測的應用技巧與實務操作。
- 精裝設計方便翻閱與保存，是科學研究與工程應用的理想參考書籍。
商品概述
《光學表面紋理計量學進展》是一本深入探討光學表面檢測技術的精裝書籍。本書由IOP Publishing Ltd出版，語言為英文，詳細介紹了光學表面紋理計量學的最新進展和應用。內容涵蓋多種光學檢測方法，並通過實例分析，幫助讀者理解和掌握相關技術。本書適合科學研究人員、工程師以及對光學表面檢測感興趣的讀者參考學習。精裝的設計也方便讀者長期保存與使用。
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