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Next Generation Halt and Hass: Robust Design of Electronics and Systems, John Wiley & Sons Inc
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商品特色
- 深入了解下一代HALT與HASS技術，優化您的電子產品和系統設計流程。
- 本書提供系統化的方法，協助您在產品開發階段防範潛在問題，提升產品可靠性。
- 透過實例學習電子系統的穩健設計，輕鬆掌握HALT與HASS的應用技巧。
商品概述
《下一代HALT與HASS：電子與系統的穩健設計》一書由Wiley出版，Kirk A. Gray與John J. Paschkewitz合著。本書深入探討了HALT（高加速壽命測試）與HASS（高加速應力篩選）的最新技術，為電子產品和系統的穩健設計提供了全面的指導。透過本書，讀者可以學習如何及早發現並解決潛在的設計缺陷，從而提高產品的可靠性和耐用性。本書內容涵蓋了從理論到實踐的各個方面，適合工程師、設計師以及相關領域的專業人士閱讀參考。書中提供了豐富的案例研究，幫助讀者更好地理解和應用這些技術。
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