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(英文圖書) New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Pro... 平裝版, Cuvillier, 英文
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商品特色
- 本書深入探討半導體元件在不同壓力下的可靠性驗證新方法，提供工程師實用的參考。
- 透過本書，讀者可以了解最新的半導體元件可靠性測試技術，提升產品的穩定性與耐用度。
- 本書以簡潔易懂的語言闡述複雜的工程概念，讓讀者輕鬆掌握半導體元件的可靠性評估方法。
商品概述
本書《半導體元件在不同和漸進應力下可靠性驗證的新方法》深入探討了半導體元件可靠性評估的最新進展。作者Alexander Hirler在書中詳細介紹了在各種應力條件下，如何對半導體元件進行可靠性驗證的創新方法。本書內容涵蓋了從理論到實踐的各個方面，為工程師和研究人員提供了寶貴的參考資料。透過本書，讀者可以了解最新的測試技術，提升產品的穩定性和耐用性。本書採用平裝形式，方便攜帶和閱讀，是工程領域不可多得的專業書籍。
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