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(英文圖書) Atomic Force Microscopy: Imaging Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale 精裝版, Intechopen, 英文
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商品特色
- 透過原子力顯微鏡，探索原子級表面的奧秘，深入了解微觀世界的結構與特性。
- 本書提供清晰的成像技術，幫助讀者輕鬆掌握原子力顯微鏡的操作與應用，提升研究效率。
- 學習如何精準測量和操控表面，為材料科學、奈米技術等領域的研究提供強大助力。
商品概述
《原子力顯微鏡：原子尺度表面的成像、測量與操控》是一本深入探討原子力顯微鏡技術的書籍。本書由Victor Bellitto編輯，IntechOpen出版社出版，以精裝形式呈現。它詳細介紹了原子力顯微鏡在原子尺度上對表面進行成像、測量和操控的原理與應用。無論您是材料科學、奈米技術還是相關領域的研究人員，本書都能為您提供寶貴的知識和技術指導，助您在微觀世界中取得突破性進展。透過本書，您將能夠掌握原子力顯微鏡的核心技術，並將其應用於實際研究中。
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