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X-Ray Phase-Contrast Imaging Using Near-Field Speckles 精裝版, Springer, 英文
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商品特色
- 透過近場斑點技術，探索X射線相位對比成像的全新視野，深入了解其獨特之處。
- 精裝設計確保書籍耐用性，讓您在研究X射線成像技術時，能長期保存與參考。
- 英文原版提供專業術語和知識，助您掌握X射線相位對比成像的精髓，提升專業能力。
商品概述
這本精裝英文書籍深入探討了使用近場斑點的X射線相位對比成像技術。由Springer出版社出版，本書提供了對該領域的全面理解，適合工程、科技和運輸領域的專業人士和研究人員。書中詳細介紹了X射線成像的原理和應用，並結合了Springer Theses系列的研究成果，為讀者提供了深入的學術見解。無論您是學生還是專業人士，本書都能幫助您掌握X射線相位對比成像的最新進展，並將其應用於實際研究中。透過本書，您將能夠探索X射線成像技術的無限可能。
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