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(英文圖書) Simulating Pattern and Process 平裝版, John Wiley & Sons, 英文
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商品特色
- 透過空間模擬,探索模式與過程,深入了解地理現象的本質與演變。
- 本書提供實用的模擬技巧,協助讀者分析複雜的空間關係,提升研究能力。
- Wiley-Blackwell 出版,內容涵蓋廣泛的空間分析方法,提供豐富的學習資源。

商品概述
本書《Simulating Pattern and Process》由 David O'Sullivan 和 George Perry 撰寫,Wiley-Blackwell 出版,深入探討空間模擬在地理研究中的應用。透過本書,讀者可以學習如何運用模擬技術來分析和理解空間模式與過程,從而更深入地了解地理現象的本質。本書內容涵蓋了多種空間分析方法,並提供了實用的模擬技巧,旨在幫助讀者提升研究能力。無論是學生還是研究人員,都能從本書中獲益匪淺,為空間分析領域的研究提供新的視角和方法。
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